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发表于 2013-4-9 22:02:09
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参考书:《六西格玛管理统计指南—MINITAB使用指导(第二版)》,
2013年1月中国人民大学出版社,北京
目录
第1章 概率统计基础(P3-P40,6S01-6S07)
(注解:即PPT文件在第3-40页,音频在6S01-6S07,下同)
1.1 随机变量及其分布
1.2 总体与样本
1.3 数据的收集和整理
1.4 中心极限定理
1.5 抽样分布
第2章 假设检验及比较方法(P41-113,6S08-6S20)
2.1 假设检验概念
2.2 正态总体均值方差检验
2.3 方差分析与多重比较
2.4 属性数据分析与列联表
2.5 非参数检验
2.6 比较方法总结
第3章 回归分析 (P114-213,6S21-6S27)
3.1 相关分析的概念及方法。
3.2 简单一元及多元线性回归模型。
3.2.1 用最小二乘法估计统计线性模型的参数。
3.2.2 对线性回归模型进行统计分析。
3.2.3 对线性回归模型进行残差诊断。
3.3 多元线性回归(逐步回归、最佳子集回归)
3.4 离散变量的Logistic回归
3.4.1 逻辑回归(Logistic Regression)基本概念.
3.4.2 二值逻辑回归分析方法
3.4.3 名义值逻辑回归
3.4.4 有序值逻辑回归
3.5 广义回归
第4章 变异源分析与测量系统分析(P214-284,6S28-6S36)
4.1. 变异源分析( Source of Variation,SOV,指南10章)
4. 1.1 目的,必要性,与DOE的比较。
4. 1.2 使用步骤;
4. 1.3 SOV图形方法:Multi-Vari-Chart
4. 1.4 SOV数值方法:因子的交叉与嵌套,固定效应与随
机效应,方差分量公式与ANOVA。
4. 1.6. 应用实例
4.2. 测量系统分析(指南11章)
4.2. 1. 测量系统的评估标准。
4.2. 2. 测量系统分析的步骤,传统方法与一般方法。
4.2. 3. 属性数据的测量系统分析
第5章 统计过程控制与过程能力指数(P285-343,6S37-6S43)
5.1 统计过程控制(第12章)
5.1.1. 常规控制图
控制图原理;计量控制图;计件与计点控制图。
5.1.2. 特殊控制图
指数加权滑动平均控制图;标准化控制图。
5.1.3 . 非标准状况的控制图(非正态、多变异源)
5.2 过程能力分析(第12章第6节)
5.2.1. 过程能力指数(PCI) Cp 及 。
5.2.2. 过程性能指数 Pp 及 Ppk 。
第6章 试验设计 (P344-508,6S44-6S64)
6.1 试验设计基础
6.2 单因子试验设计和分析
6.3 全因子设计与分析
6.4 部分实施因子试验
6.5 响应曲面设计与分析
6.6 稳健参数设计(Robust Parameter Design)
6.7 混料设计与分析
6.8 调优运算(EVOP)
第7章 六西格玛设计初步(P509-524)
黑带教师认证补充内容(6SZ01-6SZ10)
六西格玛统计重点归纳
说明:由于六西格玛统计内容涵盖内容太多。将其粗略分类:有些是重点,一定要彻底搞懂;有些是难点,初学者可先用跳过;有些仅有初步的了解就行了。为此将各知识要点按重要性列出如下。这些是对各种水平的读者是个指导,同时也便于那些准备从事黑带培训教师工作的读者掌握重点,注意深入理解复习。
** 为重点章节段落(共57段),其中黄色高显为最重要段落;
*为重要章节段落;O为次要章节段落;***难点及要求较高部分(暂不要求)
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*1. 随机变量的分布(分连续及离散两类)-
*2 正态分布概念及性质
*3. 指数分布概念及性质
*4. 二项分布概念、计算及应用
O 5. 泊松分布概念、计算及应用
*6 累积分布函数概念、计算及应用
*7. 分位数的概念
*8 中心极限定理
*9 置信区间概念及计算
**10 描述性统计量1介绍(样本均值、中位数、方差、标准差、极差)
*11 描述性统计量2介绍(四分位数、四分位间距、偏度、峰度)
**12 假设检验基本概念(用单侧检验举例),两类错误,说服力
** 13 单总体均值检验Z检验T检验
* 14 单总体均值检验流程
** 15 数据独立性游程检验方法
* 16数据正态性检验方法
* 17 非正态数据的BOX-COX变换方法
** 18单总体方差检验
** 19 双总体均值相等性检验(2-T检验条件及必要性)
**20 配对检验概念与方法(假定2-T检验已讲过)
** 21双总体方差相等性检验(F检验与Levene检验)
** 22多总体均值相等性检验(ANOVA)
** 23 多总体均值相等性多重比较方法(Tukey及Fisher结果含义)
* 24 多总体方差相等性检验
* 25 单比率检验
* 26双比率检验
* 27 有限项离散分布(指定比率)的拟合优度检验
**28 列联表概念(四格表)及卡方检验
**29 多比率检验(含多行列的列联表)卡方检验(假定列联表检验已讲过)
*** 30 三维列联表及卡方检验,Simpson悖论
**31 符号检验法
**32 Mann-Whitney检验方法
**33单总体符号秩检验(假定Mann-Whitney或秩和检验方法已讲)
* 34 Kruskal-Wallis 及Mood中位数检验简介
**35 变异源分析(SOV) 概念 及步骤
**36 多变异图的应用
**37 方差分量的计算(含全嵌套及一般线性模型方法,但不讲细节)
**38 测量系统分析概念
**39 分辨力概念及要求
**40 测量系统稳定性概念及分析方法
**41 测量系统的偏倚及线性
**42 测量系统的重复性与再现性
**43 传统(交叉重复测量)测量系统分析方法及计算
**44 固定件的测量系统分析方法(必要性及计算方法)
* 45 破坏性试验的测量系统分析方法
**46 计数型测量系统分析方法简单介绍(Kappa意义)
**47 控制图概念意义及常规控制图原理及方法
*48 合理子组的意义及“组内/组间控制图”的使用
**49实际工作中的常规控制图选择
**50 计量型控制图的选择及使用
**51 非正态数据的控制图
**52 计数型控制图的选择及使用
**53 过程能力指数的意义及有关概念和计算方法
**54 过程能力指数计算中σ的估计方法总结及有关意义
**55 使用Cp及Cpk描述过程能力指数的含义
**56 非正态数据的过程能力指数计算方法
*57 EWMA控制图的意义与计算
**58 相关分析的概念与计算(含相关性检验)
**59 回归分析的概念及最小二乘法计算
**60 回归分析中模型显著性(ANOVA)检验
**61 回归分析中系数检验的必要性及检验方法
**62 用回归分析结果进行预测方法
**63 回归分析中残差分析的必要性
***64回归分析中残差非齐性的诊断与处理(对Y进行变换)
**65回归分析中筛选变量的逐步回归方法
**66 回归分析中的最佳子集回归方法
***67 回归分析中残差出现弯曲应增加自变量二次项的计算方法
**68二值 Logistic回归概念及计算简介
*** 69 含连续自变量及离散变量的二值 Logistic回归计算
**70 试验设计(DOE)概念及试验设计的必要性
**71试验设计(DOE)三原则(随机、区组、重复)的意义性
**72 全因子试验的完整分析过程
***73 对Y*残差图中非齐性(要对Y做变换)的完整分析过程
**74 全因子试验的完整分析过程(自变量选择部分)
**75 全因子试验的完整分析过程(模型确定后的分析解释部分)
**76 全因子试验的完整分析过程(验证试验的必要性及置信区间的计算)
**77 部分因子试验的必要性及分辨度概念
**78 部分因子试验计划阶段的实施(给定要求后混杂计算及安排试验计划)
**79部分因子试验分析阶段的注意事项(分辨混杂交互作用的必要性)
* 80 Placket-Burman设计概念及使用条件
**81 响应曲面设计的意义及使用条件
*82 最速上升法的含义及计算
**83 响应曲面设计中旋转性、序惯性、有界性及CCC、CCF、CCI的选择
**84 先因子设计、后响应曲面设计的完整实例及计算
**85 响应曲面设计的最优设置的选择完整实例及计算
***86 双(多)响应曲面试验的结果分析
**87 稳健参数设计的意义及必要性
**88 分析一个稳健参数设计的实例以归纳介绍一般望目特性的分析方法
***89 混料设计的基本概念
***90混料设计的实例分析
O 91 六西格玛设计
有学明白了的吗? |
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