粒子计数器法检漏

尚坡 · 发表于 2016-8-24 16:50:03

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本帖最后由芥末子推于 2016-8-24 17:21 编辑

最近在看粒子计数器法检漏有几个问题很纠结希望各位帮解答一下 1、粒子法中有“背景值这一概念”在漏点值的计算公式中根本没有体现啊那么背景值这一概念又有何意义呢 2、看见国标GB50591-2010中计数器扫描发现有非零的泄露特征数字时应立即检漏1min，如出现≥3粒/min的读数，判为泄露，这个判断依据与用漏点值来判断是两个不同的判断方式么 3、粒子计数器法中用到了稀释器扫描仪及其粒子计数器，这个粒子计数器可以是我们日常使用的监测环境级别的粒子计数器么，我们日常能用自己的环境监测的粒子计数器检漏么？

橙路漫漫 · 发表于 2016-8-24 17:08:27

现在基本都提倡PAO检漏了

莫云天 · 发表于 2016-8-24 19:41:15

可以

mxb6095 · 发表于 2016-8-25 14:37:49

应采用PAO检漏法

言午 · 发表于 2016-8-25 15:20:14

可以采用粒子计数器法

情锁·深秋 · 发表于 2016-8-25 15:23:26

我觉得可以采用粒子计数器法

逆时针_BeK6w · 发表于 2017-3-7 11:24:48

同求答案！！！！

JL052 · 发表于 2017-3-7 11:40:02

我也想知道答案是什么

zstycsq · 发表于 2017-3-7 12:35:52

这个不太了解。

[质量保证QA] 粒子计数器法检漏

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