QC实验室的光照试验培养箱的可见光和近紫外的确认，大家是怎么去验证的

后知后觉1991

实验室有一台光照试验箱，设置4500Lux和0.9W/cm2。现在需要确认，我们自己有照度计和紫外辐照计，但是对于怎么布置测量点产生不同的意见。意见1：因为设备自带感光元件，所以有人认为可以在测量面均匀布点，并在每个点测量的时候将自带元件放到旁边，因为设备是根据元件调节强度的，可以保证每个点都能达到要求，他们还认为以后的光照试验都应该将样品放到元件附近，这样验证和日常操作保持一致即可。

意见2：认为应该将自带元件固定，比如固定在测量面的中心位置，然后在测量面均匀布点。这种方法如果设备光源不均匀就会失败(有些设备光源可能就是5根灯管，有些是整面的LED灯珠)。如果均匀就会合格并且整个测量面以后都可以随便放置样品。
意见3：只是在自带元件旁边放置测量设备，然后合格就行。这个方法看到厂家做过。略显简单了些。

问问广大的蒲友，你们的经验。

世间始终你好

先给结论：做设备确认/均匀性测绘时，应采用意见2（固定设备自带感光元件于其“正常工作位置”，在样品放置平面均匀布点测量）。
意见1/3不建议用于均匀性评价：把控制用元件挪来挪去或只在其附近测等于“拿反馈点当成绩单”，会人为掩盖不均匀问题，也与日常闭环控制条件不一致。
下面给一份可直接落地的做法与判定规则，兼顾你们的两种量：照度（lux）和紫外辐照度（W/cm²）。
为什么选意见2

• 光照箱的自带元件（光/UV传感器）是控制环的基准。均匀性测绘要在“日常控制策略不被改变”的条件下进行，才能反映真实可用区域。移动它会改变输出策略，测到的是“被你移动后优化过的局部值”，不代表其他区域。
  
• 只在元件附近测（意见3）顶多是功能性点检，无法证明整个工作面满足要求，更无法指导样品可以“随便放”。
  
  

测量与布点实施（SOP简版）

• 准备
  
  
  • 让设备空载或按“最小遮挡”装载（按你们计划的最不利/最常用装载方案），固定自带元件到日常指定位置（如厂家规定的中心/后壁位置），并记录。
    
  • 预热稳定（如30–60 min，或至内置显示/外置探头读数稳定）。
    
  • 外置照度计与紫外辐照计均需有余弦校正与合适的光谱响应（lux计为V(λ)；UV计建议匹配你们设备主要UV波段），且在有效校准期。
    
    
• 布点
  
  
  • 在样品放置平面建立网格：常用3×3（9点）；若工作面较大或光源为“条状灯管”，建议5×5（25点）。每层都要做；多层设备逐层测。
    
  • 每个点不移动设备自带元件，只移动你的测量探头。
    
    
• 测量
  
  
  • 关门后每点读取照度（lux）与UV辐照度（W/cm²），每点读取3次取平均；记录当时设定值、设备显示值、环境温度。
    
  • 如设备允许恒定可见光与恒定UV分别控制，分别在目标设定下完成两套测绘。
    
    
• 数据处理
  
  
  • 计算：平均值、最大值、最小值；
    
    
    • 均匀性% = (最大-最小)/平均 ×100%
      
    • 最小/设定 比例与最大/设定 比例。
      
      
  • 标注最不利点（最低点），作为日常放样的“警示角落”或划出“可用区”。
    
    

建议的判定/放行标准（给你们内控用）

光照法规对“面内均匀度”没有全国统一硬指标，通常按风险与用途自定。给你两档可选，择一写入SOP：

• 严格档（推荐用于注册/关键稳定性）
  
  
  • 每一点均 ≥ 设定值的90%（即 min ≥ 0.9×setpoint）
    
  • 均匀性（(max−min)/avg）≤ 20%
    
    
• 放宽档（工艺研究/过程控制）
  
  
  • 每一点均 ≥ 设定值的80%
    
  • 均匀性 ≤ 30%
    
    

若不满足：

• 方案A：维持设定，划定“合格可用区”（只在满足标准的区域放样），并在SOP附网格图。
  
• 方案B：调整灯管/LED布局或高度、增设扩散板，或微调设定值后复测。
  
• 方案C：若UV或可见光单独不均匀，考虑分开控制与验证，并在放样时避免遮挡/投影。
  
  

日常使用与再确认

• 日常放样不必“靠近元件”。应在已验证的合格区域随意摆放，避免阴影与重叠；大型试样留出间隙。
  
• 运行中监测：可以用意见3方式（在元件附近或代表点位的1–2个“监控点”）做例行点检（如每周/月），用来发现灯老化或漂移；但这不能替代全场均匀性测绘。
  
• 复验频次：建议年一次或更换灯管/维护后复验；若设定改动、装载方式显著变化或出现OOS/OOT，也应复验。
  
• 积分量要求（若做药品光稳定性）：在正式试验中要累计达到你们方案要求的lux·h与UV Wh/m²/或J/cm²（用你们的UV计或设备累计值），并以最不利点为依据确认“最短暴露时间”。
  
  

仪表与读数注意点

• 光谱响应匹配：lux计为可见光，UV计确认其波段覆盖你设备UV输出（例如 UVA 320–400 nm）。
  
• 探头姿态：探头面需水平朝上且具余弦校正；每点保持同一高度（样品面）。
  
• 安全：你们设的0.9 W/cm²属高强度UV，操作时佩戴合规的UV防护眼镜与皮肤遮挡，避免直视开口或门缝。
  
• 预热与漂移：灯具/LED需预热至稳定；老化会导致整体下降但不均匀性上升，因此例行点检要关注最小点的长期趋势。
  
• 遮挡效应：真实试验前，可在代表性装载下抽检几个点，确认大体与空载测绘一致；如差异大，需对装载方式限控。
  
  

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小结

• 做“均匀性/合格区”确认：固定内置元件（意见2）+ 网格测绘是正途。
  
• 日常快检：可用意见3做监控，但不能代替测绘。
  
• 意见1会改变控制环节、掩盖问题，不推荐。
  
  

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