GB /T 18268.1-2025和 GB /T 18268.1-2010标准的比较主要的变化

屈先生

      表1 用于基本电磁环境的设备的抗扰度试验要求

试验端口	GB  /T 18268.1-2010	GB  /T 18268.1-2025
外壳	静电放电：接触放电±4kV，空气放电±4kV	静电放电：接触放电±4kV，空气放电±8kV
	射频电磁场：    3V/m(80MHz-1GHz,1.4GHz-2GHz)    1V/m(2GHz-2.7GHz)	射频电磁场：    3V/m（80MHz-1GHz，1.4GHz-6GHz）a    a  如果1-1.4GHz的频率范围内也进行试验，建议使用相同的试验等级。
	/	新增：    工频磁场b：3A/m(50Hz,60Hz)    b仅适用于对磁场敏感的设备。
交流电、直流电、直接与电源相连的I/O信号和控制	脉冲群： ±1kV（5kHz）	脉冲群： ±1kV（5kHz或100kHz）
I/O信号和控制	脉冲群： ±0.5kV（5kHz）	脉冲群： ±0.5kV（5kHz或100kHz）

                           

                                                                              表2 工业电磁环境中使用的设备的抗扰度试验要求

试验端口	GB  /T 18268.1-2010	GB  /T 18268.1-2025
外壳	射频电磁场：    10V/m  (80MHz-1GHz)，    3V/m  (1.4GHz-2GHz)，    1V/m(2GHz-2.7GHz)	射频电磁场：    10V/m（80MHz-1GHz），3V/m    1.4GHz-6GHz）a    a  如果1-1.4GHz的频率范围内也进行试验，建议使用相同的试验等级。
交流电、直流电、直接与电源相连的I/O信号和控制	脉冲群： ±2kV（5kHz）	脉冲群： ±2kV（5kHz或100kHz）
I/O信号和控制	脉冲群： ±1kV（5kHz）	脉冲群： ±1kV（5kHz或100kHz

                                                                        表3 在受控电磁环境中使用的设备的抗扰度试验要求

试验端口	GB  /T 18268.1-2010	GB  /T 18268.1-2025
外壳	射频电磁场：    1V/m  (80MHz-1GHz)，    1V/m  (1.4GHz-2GHz)，    1V/m(2GHz-2.7GHz)	射频电磁场：    1V/m（80MHz-1GHz），1V/m    1.4GHz-6GHz）a    a  如果1-1.4GHz的频率范围内也进行试验，建议使用相同的试验等级。
交流电、直流电、直接与电源相连的I/O信号和控制	脉冲群： ±1kV（5kHz）	脉冲群： ±1kV（5kHz或100kHz）
I/O信号和控制	脉冲群： ±0.5kV（5kHz）	脉冲群： ±0.5kV（5kHz或100kHz）

                                                                                              6.4性能判据

等级	GB  /T 18268.1-2010	GB  /T 18268.1-2025
性能判据A	试验时，在规范限值内性能正常。    示例：如果要求电子设备工作可靠性高，则受试设备工作时性能不应有偏离制造商所规定的技术规范的明显降级。	在试验期间和试验之后，设备应继续按预期运行。当按预定条件使用设备时，不允许出现低于用户文件中规定性能等级的性能降低或功能丧失。在实施连续电磁骚扰抗扰度试验时，可以用允许的性能丧失取代性能等级，该性能丧失应在无用户干预的情况下自行恢复。只有当这些信息通过产品用户手册等文件明确提供给最终用户时，才允许该性能等级内有允许性能丧失。不允许运行状态有任何变化，也不允许丢失数据。
性能判据B	试验时，功能或性能暂时降低或丧失，但能自行恢复。    示例1：数据传送用奇偶校验或通过其他方法来控制和校验。例如由雷击等类似原因引起出错时，数据传送将自动重复，这时降低的数据传送速率是可以接受的。    示例2：试验时，模拟功能数值可出现偏差。试验后，偏差消失。    示例3：在一个监视器只用于人-机监视时，出现某些短时间的性能下降是可以接受的，例如在施加脉冲群时出现闪烁。	试验后，设备应继续按预期运行。当设备按预期使用时，不允许出现低于用户文件规定性能等级的性能降低或功能丧失。在试验期间，如果电磁兼容试验方案对性能丧失有详细说明，则可以用允许的性能丧失取代设备性能等级。只有当这些信息通过如产品用户手册等文件明确提供给最终用户时，才允许该性能等级内有允许的性能丧失。如果可以自行恢复，则允许工作状态发生非预期的变化。存储的数据不允许丢失。    性能判据B的示例。    - 用奇偶校验或其他方法控制或校验数据传输。出现由浪涌冲击脉冲等引发的故障时，数据传输将自动重复。此时，数据传输速率的降低是允许的性能降低。    - 试验过程中，模拟功能值的偏差可能超过规定限值。试验结束后，偏差消失。    - 在监视器仅用于人机监控的情况下，允许发生某些性能下降，例如在施加脉冲群期间出现短暂的显示干扰。
性能判据C	试验时，功能或性能暂时降低或丧失，但需要操作者干预或系统复位。    示例1： 当主电源的中断比规定的缓冲时间要长时，设备的供电单元被切断。供电电源的接通可以是自动的或由操作者进行。    示例2：在骚扰导致程序中断后，设备的处理器功能应停在规定位置，并且不会处于“崩溃状态”。可能需要给出提示，以让操作者做出判定。    示例3：试验导致过流保护装置断路，由操作者更换或复位过流保护装置。	允许功能丧失，只要功能可自行恢复或通过控制器操作恢复。恢复程序应包括在用户文件中。不允许对设备造成永久性损坏。    性能判据C的示例。    -  当主电源中断时间长于规定缓冲时间时，设备的供电单元被切断。供电电源可以自动接通或由操作者接通。    -  由于骚扰导致程序中断后，设备的处理器功能停止在规定位置，而不是处于“崩溃状态”。可能需要操作者干预。    -  试验导致过电流保护装置断路，该保护装置可由操作者复位。

                                                                                             7.2发射限值

	GB  /T 18268.1-2010	GB  /T 18268.1-2025
A类设备	GB  4824给出的限值、测量方法和规定适用于A类设备	1组A类设备适用GB 4824-2025的6.2给出的限值、测量方法和规定。2组A类设备适用GB  4824-2025的6.3给出的限值、测量方法和规定。
B类设备	GB  4824、GB 17625.1(或IEC 61000-3-12)和GB/T 17625.2(或 IEC 61000-3-11)给出的限值、测量方法和规定	1组B类设备适用GB 4824-2025的6.2给出的限值、测量方法和规定。2组B类设备适用GB  4824-2025的6.3给出的限值、测量方法和规定。此外，对于输入电流不大于16A的B类设备，使用IEC  61000-3-2和IEC 61000-3-3。对于每相不大于75A的更高输入电流，适用IEC 61000-3-12和IEC 61000-3-11。

                                                                        

                                                                                    表A.1便携式实验和测量设备的抗扰度试验要求

试验端口	GB  /T 18268.1-2010	GB  /T 18268.1-2025
外壳	射频电磁场：    3V/m  (80MHz-1GHz)，    3V/m  (1.4GHz-2GHz)，    1V/m(2GHz-2.7GHz)	射频电磁场：    3V/m  (80MHz-1GHz），    3V/m  (1.4GHz-2GHz）a    1V/m  (2GHz-6GHz)    a  如果在1-1.4GHz的频率范围内也进行试验，则建议采用与1.4 GHz-2GHz 频率范围相同的试验电平。。
	/	新增 工频磁场b：3A/m（50Hz，60Hz）c    b:  仅适用于磁场敏感设备。    c：试验应在适合于电网供电的频率下进行。仅在上述频率之一供电的区域内使用的设备只需要在该频率下进行试验。

jinn512

我的眼睛，啊啊啊啊啊啊

冰宇

厉害！厉害！我的老哥哥！为眼镜店做贡献呢！

Jacobu1j

          天黑了。